Юрий Раков

Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5

Информация о книге:

Автор книги: Юрий Раков

Издательство: НГТУ

Серия:

Год издания: 0

isbn: 978-5-7782-1618-1

Аннотация:

В четвертой части учебного пособия подробно изложена физика процессов, происходящих в полевых транзисторах с барьером Шоттки на арсениде галлия, наиболее быстродействующих и широко применяемых в СВЧ-диапазоне. Рассмотрена электрофизическая модель на данный тип транзисторов и приведены практические результаты, доказывающие правомерность такой модели. Данная часть пособия полезна студентам, специализирующимся в проектировании быстродействующих электронных средств по твердотельной технологии.

Скачать книгу