Информация о книге:
Автор книги: Коллектив авторов
Жанр: Учебная литература
Издательство: Издательский дом “Белорусская наука”
Год издания: 2018
isbn: 978-985-08-2298-7
Аннотация:
Рассмотрены и обобщены результаты исследований и разработок в области технологии и оборудования для производства и диагностики субмикронных структур полупроводниковой микроэлектроники. Предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и других отраслей промышленности, специалистов научно-исследовательских институтов, аспирантов, магистрантов и студентов старших курсов технических вузов.