Александр Величко Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии Подробнее
Александр Величко Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть 2 Подробнее
