Юрий Железко Потери электроэнергии. Реактивная мощность. Качество электроэнергии: Руководство для практических расчетов Подробнее
А. В. Аверченков Станки с ЧПУ: устройство, программирование, инструментальное обеспечение и оснастка Подробнее
Коллектив авторов Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение Подробнее
Ю. А. Крупнов Оптико-электронные узлы электронно-вычислительных средств, измерительных приборов и устройств автоматики. Учебное пособие Подробнее
А. А. Раскин Технология материалов микро-, опто– и наноэлектроники. Часть 1. Учебное пособие Подробнее
